Romitec
Rodler Mikroskopie Technik

Ingenieurbüro Andreas Rodler

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Unser Ziel

Mikroskopie

Schichtdickenmessung

Strukturbreitenmessung

Optische Inspektion

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Neben der Mikroskopie ist auch die Messung und Charakterisierung von dünnen, optisch transparenten Schichten mit Hilfe der Reflektometrie und Ellipsometrie unser Spezialgebiet.

Hierzu stehen uns Geräte der Firmen Leica/Leitz, Mikropack und Gaertner zur Verfügung.

Gerne prüfen wir Ihre Proben auf Meßbarkeit und führen kostengünstige Auftragsmessungen durch.
Bitte nehmen Sie Kontakt mit uns auf info@romitec.de